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隨機誤差是不可預(yù)知的，因為它以隨機形式存在，會隨時間變化，因此不能通過校準(zhǔn)消除。隨機誤差的主要來源為儀表內(nèi)部噪聲，例如，激勵源的相位噪聲、采樣噪聲、中頻接收機本底噪聲、開關(guān)動作重復(fù)性等。

漂移誤差是儀表校準(zhǔn)后測試裝置性能的漂移。漂移誤差主要是由于溫度變化造成，可通過進一步校準(zhǔn)消除。校準(zhǔn)后儀表能夠保持穩(wěn)定精度的時間長短取決于測量環(huán)境中儀表的漂移速度。直通校準(zhǔn)，非常容易執(zhí)行，主要用于消除頻率響應(yīng)錯誤。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

網(wǎng)絡(luò)分析儀在各個領(lǐng)域應(yīng)用都比較廣泛，也是許多企業(yè)的常用設(shè)備，而本身網(wǎng)絡(luò)分析儀就是較為精密的設(shè)備，在長久使用下，一些電子元器件產(chǎn)生磨損，以及操作人員的使用方式和保存手段等等因素，都會導(dǎo)致分析儀產(chǎn)生數(shù)據(jù)偏差，所以定期進行儀器校準(zhǔn)就非常必要，那么網(wǎng)絡(luò)分析儀儀器校準(zhǔn)怎么做？

網(wǎng)絡(luò)分析儀的參數(shù)，在校準(zhǔn)時進行設(shè)置，可以較為有效地測量出我們所需的值。一般從測試頻率范圍調(diào)整，常規(guī)的頻率范圍一般都會高于校準(zhǔn)檢測所規(guī)定的數(shù)值區(qū)域，所以需要選擇VNA Port激勵功率，如果是無源器件類型的話，則可以選更大的激勵功率，如0dBm一類。

根據(jù)測量頻段和實際需求的不同，近場測試分為非變頻的直接測量和變頻測量兩種方法。非變頻測量時，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接在射頻微波的高頻上進行收發(fā)測試，主要適用于頻率相對比較低，傳輸線損耗比較小的應(yīng)用。如C波段、S波段。而在高頻段，尤其在18GHz以上測量傳輸線的損耗大，在掃描過程中線纜的相位波動明顯。此時天線接收的信號一般需要先變換到中頻，再由傳輸?shù)绞噶烤W(wǎng)絡(luò)分析儀進行測量處理，避免了高頻段長距離傳輸帶來的損耗，以及在掃描過程中的相位波動。